č. 71/2004 Sb., Vyhláška, kterou se stanoví požadavky na měřicí soustavy s Epsteinovým přístrojem pro měření magnetických vlastností plechů pro elektrotechniku
VYHLÁŠKA
ze dne 3. února 2004,
kterou se stanoví požadavky na měřicí sestavy s Epsteinovým přístrojem pro měření magnetických vlastností plechů pro elektrotechniku
Ministerstvo průmyslu a obchodu stanoví podle § 27 zákona č. 505/1990 Sb., o metrologii, ve znění zákona č. 119/2000 Sb. a zákona č. 137/2002 Sb., (dále jen „zákon”) k provedení § 6 odst. 2 a § 9 odst. 1 zákona:
§ 1
Tato vyhláška stanoví požadavky na měřicí sestavy s Epsteinovým přístrojem pro měření magnetických vlastností plechů pro elektrotechniku (dále jen „měřicí sestavy”), postup při schvalování jejich typu a postup při jejich ověřování.
§ 2
Terminologie, požadavky na měřicí sestavy, jakož i postup při schvalování typu měřicích sestav a postup při jejich ověřování jsou uvedeny v příloze.
§ 3
Tato vyhláška nabývá účinnosti dnem 1. března 2004.
Ministr:
Ing. Urban v. r.
Příloha k vyhlášce č. 71/2004 Sb.
1 TERMINOLOGIE
1.1 Měřicí sestava se používá pro měření amplitudové charakteristiky a měrných ztrát plechů pro elektrotechniku. Skládá se z přístrojů a zařízení zapojených podle obrázků l až 3 a specifikovaných v bodu 2.
1.2 Etalonový vzorek pro Epsteinův přístroj příslušející k měřicí sestavě je vzorek splňující požadavky této vyhlášky a používaný výhradně k metrologické návaznosti měřicí sestavy.
1.3 Etalonová měřicí sestava je měřicí sestava podle bodu 1.1, která je v držení metrologické instituce, je dlouhodobě sledovaná a prostřednictvím etalonových vzorků mezinárodně porovnaná.
1.4 Měrné ztráty měřené měřicí sestavou jsou ztráty přemagnetováním v měřeném vzorku vztažené k aktivní hmotnosti vzorku.
1.5 Amplitudová charakteristika je závislost amplitudy magnetické polarizace ve vzorku na amplitudě intenzity magnetického pole ve vzorku.
2 POŽADAVKY NA MĚŘICÍ SESTAVY
2.1 METROLOGICKÉ POŽADAVKY
Měřicí sestava se skládá z částí, které musí splňovat tyto požadavky:
a)
Epsteinův přístroj specifikovaný v bodu 2.2,
b)
měřidlo frekvence měřící s chybou 0,1 % nebo menší,
c)
voltmetr střední hodnoty měřící s chybnou 0,2 % nebo menší,
d)
voltmetr efektivní hodnoty měřící s chybou 0,2 % nebo menší,
e)
měřidlo výkonu měřící s chybou 0,5 % nebo menší při aktuálním účiníku a crest faktoru, resistance napěťového obvodu měřidla výkonu musí být nejméně 5000 krát větší než jeho reaktance,
f)
voltmetr amplitudy měřící s chybou 0,5 % nebo menší ve spojení s odporem s vyhovujícím povoleným proudem a hodnotou známou s chybou 0,2 % nebo menší (místo voltmetru amplitudy s odporem lze použít vzájemnou indukčnost s vyhovujícím povoleným proudem v primárním vinutí a s hodnotou známou s chybou 0,2 % nebo menší spolu s dvoupólovým přepínačem a voltmetrem střední hodnoty),
g)
zdroj magnetovacího proudu s nízkou výstupní impedancí a vysokou stabilitou napětí a frekvence, kolísání napětí a frekvence nesmí být větší než 0,2 % použité hodnoty. Pro měření měrných ztrát musí být zajištěn činitel tvaru sekundárního napětí…
